熒光磁粉探傷自動(dòng)化圖像處理

熒光磁粉探傷由于具有靈敏度高、缺陷易于識(shí)別等優(yōu)點(diǎn)，已經(jīng)成為對鋼結(jié)構(gòu)材料表面及其近表面?zhèn)圻M(jìn)行檢測的最有效的技術(shù)之一。但現(xiàn)行的磁粉探傷過程中，缺陷識(shí)別的主要形式仍然是人工直接觀察，然后識(shí)別零件缺陷的有無，其技術(shù)不足主要表現(xiàn)為：勞動(dòng)強(qiáng)度大，測試速度慢，人工因素帶來的漏檢嚴(yán)重及健康危害。這些不足嚴(yán)重影響了殘次零件的檢測效率和生產(chǎn)現(xiàn)場的高效現(xiàn)代化管理。針對這些問題，我們研發(fā)磁粉探傷自動(dòng)化設(shè)備，可以更好的推動(dòng)無損探傷行業(yè)的發(fā)展。

磁粉探傷磁痕圖像分析

由于圖像采集環(huán)境、工件加工精度及形狀、磁懸液自身特性等客觀因素的影響，通過工業(yè)用高分辨率電荷耦合器件攝像機(jī)采集得到的實(shí)時(shí)磁痕圖像包含了大量的信息，我們需要將這些圖像信息進(jìn)行分析處理。

通過圖像的分析可以得出下列結(jié)論：

(1)圖像信息可以分為目標(biāo)與背景兩部分。目標(biāo)部分指的是磁粉發(fā)光的綠色區(qū)域，剩余區(qū)域?yàn)楸尘安糠帧?/p>

(2)圖像信息中目標(biāo)與背景明顯的特征區(qū)別在于顏色差異，可以將此作為提取目標(biāo)區(qū)域時(shí)分割圖像的判據(jù)。

進(jìn)一步對目標(biāo)信息進(jìn)行分析可知，目標(biāo)信息主要以磁懸液在紫外光照射下發(fā)出的綠色光為主，但是磁懸液是流體，除傷痕處吸附一定量磁粉外，由于工件表面粗糙凹凸以及工件形狀特征等因素也會(huì)導(dǎo)致磁粉多少不等的附著與殘留，致使目標(biāo)區(qū)域除存在傷痕信號(hào)外，同時(shí)存在大量偽信號(hào)。通過表2中對傷痕特征的分析可得到一個(gè)結(jié)論:圖像信息中目標(biāo)區(qū)域由真?zhèn)涡盘?hào)構(gòu)成，兩者的主要特征區(qū)別在于圓形度(直線度)，面積(覆蓋像素?cái)?shù)量)等指標(biāo)上的差異，可以以此作為缺陷識(shí)別的判據(jù)。