超聲波斜射探傷法檢測的原理

超聲波探傷檢測可以分為超聲波探傷和超聲波測厚，以及超聲波測晶粒度、測應(yīng)力等。在超聲探傷中，有根據(jù)缺陷的回波和底面的回波進(jìn)行判斷的脈沖反射法；有根據(jù)缺的陰影來判斷缺陷情況的穿透法；還有根據(jù)由被檢物產(chǎn)生駐波來判斷缺陷情況或者判斷板厚的共振法。

 

目前用得最多的方法是脈沖反射法。脈沖反射法在垂直探傷時(shí)用縱波，在斜入射探傷時(shí)大多用橫波。把超聲波射入被檢物的一面，然后在同一面接收從缺陷處反射回來的回波，根據(jù)回波情況來判斷缺陷的情況?？v波垂直探傷和橫波傾斜入射探傷是超聲波探傷中兩種主要探傷方法。兩種方法各有不同用途，互為補(bǔ)充，縱波探傷容易發(fā)現(xiàn)與探測面平行或稍有傾斜的缺陷，主要用于鋼板、鍛件、鑄件的探傷，而斜射的橫波探傷，容易發(fā)現(xiàn)垂直于探測面或傾斜較大的缺陷，主要用于焊縫的探傷。

斜射探傷法

在斜射探傷中，由于超聲波在被檢物中是斜向傳播的，超聲波是斜向射到底面，所以不會有底面回波。因此，不能再用底面回波調(diào)節(jié)來對缺陷進(jìn)行定位。而要知道缺陷位置，需要用適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)試塊來把示波管橫坐標(biāo)調(diào)整到適當(dāng)狀態(tài)。通常采用JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的CSK-IA試塊和橫孔試塊來進(jìn)行調(diào)整。

 

目前，對掃描線的調(diào)整有三種方法：
1、按水平距離調(diào)整掃描線。通過調(diào)整，使時(shí)基線刻度按一定比例代表反射點(diǎn)的水平距離χ，在探傷時(shí)，根據(jù)缺陷波在熒光屏上水平刻度位置可直接讀出缺陷的水平距離。

2、按深度調(diào)整掃描線。通過調(diào)整，使時(shí)基線刻度按一定比例代表反射點(diǎn)的深度d。在探傷時(shí)，根據(jù)缺陷波在熒光屏上水平刻度線上的位置可直接讀出缺陷的深度。

3、按聲程調(diào)整掃描線。通過調(diào)整，使時(shí)基線刻度按一定比例代表反射點(diǎn)的聲程W。在探傷時(shí)，根據(jù)缺陷波在熒光屏上時(shí)基線上的位置可直接讀出缺陷的聲程。

 

以上三種掃描線調(diào)節(jié)方法，其中第一種主要用于中薄板焊縫探傷中，第二種用于厚板焊縫探傷中，第三章用于形狀復(fù)雜的工件，例如發(fā)電廠汽輪機(jī)部件的探傷。