T型接頭相控陣全聚焦法成像檢測

對(duì)于傳統(tǒng)的相控控陣技術(shù)-S掃（扇掃）和E掃(電子掃 )，只要聲束相應(yīng)聚焦，就能提供橫向分辨率為2～3個(gè)波長的聲成像 。

用超聲相控陣全聚焦法 (TFM)時(shí)，若虛擬探頭用大孔徑，可得分辨力為1個(gè)波長。

相控陣全聚焦法原理

全聚焦法的前提要求是全矩陣捕獲(FMC)：再一個(gè)采集(探測)周期內(nèi)，陣列的每一陣元均發(fā)射一個(gè)聲波，即共有n個(gè)陣元相繼發(fā)射。對(duì)每個(gè)發(fā)射．n個(gè)陣元中每一個(gè)陣元均接收一個(gè)A掃信號(hào)。這樣，總共就有個(gè)n2個(gè)顯示信號(hào)組合在一個(gè)矩陣中，矩陣橫行代表發(fā)射陣元，縱列代表接收陣元。對(duì)聲透射平面內(nèi)的任何反射體，具有相同顏色的A顯示，表示聲傳播(飛行)時(shí)間相同。此時(shí)，A掃描顯示可作進(jìn)一 步處理，以在一定關(guān)注區(qū)內(nèi)創(chuàng)建超聲圖像。

T型接頭相控陣掃描

對(duì)T型接頭，通常最關(guān)注的重要缺陷是坡口面未熔合(腹板側(cè)和翼板側(cè))、根部未焊透。超聲探頭置于翼板，在 組合焊縫對(duì)側(cè)進(jìn)行掃查往往是第一選擇。

TFM能獲得很高的橫向分辨力，對(duì)關(guān)注區(qū)內(nèi)每一點(diǎn)均可聚焦，故與反射體深度幾乎尤天。單一陣元激發(fā)和接收時(shí)，擴(kuò)敞角很大，故掃查范鬧也很大。

TFM可用6dB降落法對(duì)缺陷定量，即使小缺陷亦如此。 像重建箅法，可用橫波、也可用縱波，甚至可以考慮用不同的變型波法 。對(duì)傾斜缺陷檢出率島高。

(3)TFM能減小近表面盲區(qū)，提高信噪比。

(4)使用不同的重建算法，TFM對(duì)圖像中缺陷定量有明顯改進(jìn)，其可取代常規(guī)波幅評(píng)定法。借助于TFM提供的平臺(tái) ，在缺陷圖像顯示上有優(yōu)勢。

相控陣鋼板探傷檢測設(shè)備

相控陣鋼管探傷檢測設(shè)備